AFM拉曼聯用系統工作模式：

1.標準工作模式：

1.1輕敲模式(shi)(Vibration mode)

1.2接觸模(mo)式(Contact mode)

1.3相位(wei)成像模式(shi)(Phase imaging)

1.4橫向力模式(shi)(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線測試（Force curve）可測楊氏(shi)模(mo)量(liang)

1.6納米操控 （Nanomanipulation）

1.7納米刻蝕(shi) （Nanolithography）

1.8力矩陣模式 （Force Mapping）

1.9摩擦力測試 （Friction Mode）

2. 可選工作模式(shi)：

2.1 磁(ci)力顯微鏡模式(shi)（MFM mode）

2.2 靜(jing)電力顯微(wei)鏡模式（EFM mode）

2.3 導電顯(xian)微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液(ye)相模(mo)式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專(zhuan)門(men)從(cong)事設計和制造原子力顯微(wei)鏡的專(zhuan)業化公(gong)司 。公(gong)司創始人是有30年原子力顯微(wei)鏡經驗的 Paul West博士(shi)，原子力顯微(wei)鏡教(jiao)材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

AFM拉曼聯用系統技術參數

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范圍(wei)：17 μm，7 μm

XY方向驅動分辨率：0.01 nm

Z方向驅動(dong)分辨率：0.003 nm

Z方(fang)向測量噪音水平：0.15 nm

樣品尺寸：直徑25mm