HR-AFM是一款專業級的多功能原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

國內生產(chan)的(de)HR-AFM原子力顯微鏡

標準工作模(mo)式：輕敲模(mo)式(Vibration mode)，接(jie)觸模(mo)式 (Contact mode)，相位成像模(mo)式 (Phase imaging)，橫向(xiang)力模(mo)式 (LFM)，力曲(qu)線(xian)測試（Force Curve），納米(mi)操控 （Nanomanipulation），納米(mi)刻蝕(shi) （Nanolithography），力矩陣模(mo)式 （Force Mapping），摩擦力測試 （Friction Mode）

可選工作模式：導(dao)電原子力(li)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡 （C-AFM），磁力(li)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡（MFM），靜(jing)電力(li)顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡（EFM）,掃描(miao)電勢顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡（SKPM）。

多功能原子力顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針

X,Y,Z三軸分離的掃描器(qi)。

掃描范圍 100×100×17μm

Z軸分辨率0.035nm

樣品臺尺寸：25mm*25mm*18mm

操作(zuo)軟(ruan)件：使用Laview環境語(yu)言控制，免(mian)費提供操作(zuo)軟(ruan)件，并提供維護及升級

提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分析系(xi)統(tong)

頂視系統光學分(fen)辨率(lv)≤2微米

視場范圍(wei)從(cong)2mm*2mm到(dao)(dao)300um*300um可調，放大倍(bei)率從(cong)45倍(bei)到(dao)(dao)400倍(bei)機械可調

側視系(xi)統，提供(gong)可視化下針(zhen)(zhen)，可以通過電腦精確觀察控(kong)制下針(zhen)(zhen)過程，防止撞針(zhen)(zhen)