簡要描述:葛蘭帕 AFMWorkshopTT2-AFM原子力顯(xian)微鏡(jing) 可(ke)以在(zai)不(bu)破壞(huai)樣(yang)品內部結(jie)構(gou)(gou)的情況(kuang)下觀測樣(yang)品微區三維形貌(mao)和多相結(jie)構(gou)(gou)(納米級別);同時可(ke)對樣(yang)品表(biao)面物理化學特性進行(xing)研究,數值(zhi)測定(ding)與分(fen)析。
品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
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價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
應用領域 | 食品,化工,生物產業,能源,制藥 |
TT2-AFM原子力顯微(wei)鏡
1.標準工作模式:
1.1輕敲模式(shi)(Vibration mode)
1.2接觸(chu)模(mo)式(Contact mode)
1.3相(xiang)位(wei)成像模式(Phase imaging)
1.4橫向(xiang)力模(mo)式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5力曲(qu)線測試(shi)(Force curve)可測楊(yang)氏模量
1.6納米(mi)操控(kong) (Nanomanipulation)
1.7納米刻蝕 (Nanolithography)
1.8力矩陣模式 (Force Mapping)
1.9摩(mo)擦力測試 (Friction Mode)
2. 可選工作模(mo)式(shi):
2.1 磁(ci)力顯微(wei)鏡模(mo)式(MFM mode)
2.2 靜電力顯微鏡(jing)模式(EFM mode)
2.3 導電(dian)顯微鏡模式(C-AFM mode)
2.4 液相(xiang)模式 (Liquid scan mode)
AFMWorkshop是(shi)專(zhuan)門從事設計(ji)和(he)制造(zao)原(yuan)子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡的專(zhuan)業化公(gong)(gong)司 。公(gong)(gong)司創始(shi)人是(shi)有30年原(yuan)子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡經驗的 Paul West博士,原(yuan)子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡教(jiao)材《Atomic Forces Microscopes》的作者。
掃描范圍(wei):100 μm,50 μm,15μmZ方向范(fan)圍(wei):17 μm,7 μmXY方向驅動分辨(bian)率:0.01 nmZ方向驅(qu)動分辨率:0.003 nmZ方向測量噪(zao)音水(shui)平:0.15 nm樣品尺寸:直徑25mm
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