簡要描述：葛蘭帕 AFMWorkshopTT2-AFM原子力顯(xian)微鏡(jing) 可(ke)以在(zai)不(bu)破壞(huai)樣(yang)品內部結(jie)構(gou)(gou)的情況(kuang)下觀測樣(yang)品微區三維形貌(mao)和多相結(jie)構(gou)(gou)（納米級別）；同時可(ke)對樣(yang)品表(biao)面物理化學特性進行(xing)研究，數值(zhi)測定(ding)與分(fen)析。
產品型號：廠商性質：生產廠家更新時間：2024-10-10訪 問 量：6354| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 食品,化工,生物產業,能源,制藥 |
TT2-AFM原子力顯微(wei)鏡
1.標準工作模式：
1.1輕敲模式(shi)(Vibration mode)
1.2接觸(chu)模(mo)式(Contact mode)
1.3相(xiang)位(wei)成像模式(Phase imaging)
1.4橫向(xiang)力模(mo)式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5力曲(qu)線測試(shi)（Force curve）可測楊(yang)氏模量
1.6納米(mi)操控(kong) （Nanomanipulation）
1.7納米刻蝕 （Nanolithography）
1.8力矩陣模式 （Force Mapping）
1.9摩(mo)擦力測試 （Friction Mode）
2. 可選工作模(mo)式(shi)：
2.1 磁(ci)力顯微(wei)鏡模(mo)式（MFM mode）
2.2 靜電力顯微鏡(jing)模式（EFM mode）
2.3 導電(dian)顯微鏡模式（C-AFM mode）
2.4 液相(xiang)模式 （Liquid scan mode）
AFMWorkshop是(shi)專(zhuan)門從事設計(ji)和(he)制造(zao)原(yuan)子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡的專(zhuan)業化公(gong)(gong)司 。公(gong)(gong)司創始(shi)人是(shi)有30年原(yuan)子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡經驗的 Paul West博士，原(yuan)子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡教(jiao)材《Atomic Forces Microscopes》的作者。
掃描范圍(wei)：100 μm，50 μm，15μmZ方向范(fan)圍(wei)：17 μm，7 μmXY方向驅動分辨(bian)率：0.01 nmZ方向驅(qu)動分辨率：0.003 nmZ方向測量噪(zao)音水(shui)平：0.15 nm樣品尺寸：直徑25mm
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