葛蘭帕國產版HR-AFM原子力顯微鏡是一款專業級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

葛蘭帕國產版HR-AFM原子力顯微鏡標準工作模式：

輕(qing)敲模(mo)(mo)式(Vibration mode)，接(jie)觸模(mo)(mo)式 (Contact mode)，相位成像模(mo)(mo)式 (Phase imaging)，橫向力模(mo)(mo)式 (LFM)，力曲(qu)線測(ce)試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模(mo)(mo)式 （Force Mapping），摩擦力測(ce)試 （Friction Mode）

可選工作模式：導電(dian)原子力顯微(wei)(wei)鏡 （C-AFM），磁(ci)力顯微(wei)(wei)鏡（MFM），靜電(dian)力顯微(wei)(wei)鏡（EFM）,掃(sao)描電(dian)勢顯微(wei)(wei)鏡（SKPM）。

設備(bei)具有軟件自動(dong)進(jin)針(zhen)功能(neng)。通過軟件控制(zhi)Z方(fang)向馬達(da)實現(xian)探針(zhen)自動(dong)進(jin)針(zhen)。

X,Y,Z三軸(zhou)分離(li)的(de)掃描(miao)器。

掃描(miao)范圍(wei) 100×100×17μm

Z軸分(fen)辨率0.035nm

樣品(pin)臺尺(chi)寸：25mm*25mm*18mm 

操作(zuo)軟(ruan)件(jian)：使用(yong)Laview環境語言控制(zhi)，免費提供操作(zuo)軟(ruan)件(jian)，并提供維護及升級(ji)。提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分析系統

頂視系統光學分辨率≤2微(wei)米，視場范(fan)圍從2mm*2mm到300um*300um可(ke)調(diao)(diao)，放大倍率從45倍到400倍機(ji)械可(ke)調(diao)(diao)。

側視系統，提供(gong)可視化下針，可以通過(guo)電腦精確觀察控制下針過(guo)程，防止撞針。