HR-AFM原子力顯微(wei)鏡

主要優勢：

1、全新設計的(de)KMD運動(dong)學結構，降低(di)了噪音(yin)水平，輕(qing)松實(shi)現(xian)原子級分辨率(lv)。

2、提供可視(shi)化下針系(xi)統，操(cao)作簡單，對(dui)新(xin)手友(you)好。

3、提高了掃描速度，10秒出圖。

1.標準工作模式：

1.1輕(qing)敲模式(Vibration mode)

1.2接(jie)觸(chu)模(mo)式 (Contact mode)

1.3相位成像(xiang)模式 (Phase imaging)

1.4橫(heng)向(xiang)力(li)模式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線測試（Force curve）可(ke)測楊氏模量(liang)

1.6 納米操控 （Nanomanipulation）

1.7 納米刻(ke)蝕 （Nanolithography）

1.8 力矩陣(zhen)模式 （Force Mapping）

1.9 摩擦力測試 （Friction Mode）

2. 可選工作(zuo)模式(shi)：

2.1 磁力顯微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微(wei)鏡模式（EFM mode）

2.3 導電顯微鏡(jing)模(mo)式（C-AFM mode）

2.4 液相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專門(men)從事(shi)設(she)計和制造原子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)的專業化公司 。公司創始人是(shi)有30年(nian)原子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)經驗的 Paul West博士，原子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ方向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅動分辨率：0.01 nmZ方向驅動分辨率：0.003 nmZ方向測量噪音水平：0.03 nm樣品尺寸：直徑25