NP-AFM原子力顯微鏡

主要優勢：

1、全(quan)新設計的KMD運(yun)動學(xue)結構，降低了噪音水(shui)平，輕松實現原(yuan)子級分辨(bian)率。

2、提(ti)供可視化下針系統，操作簡(jian)單，對新手友好。

3、提高(gao)了掃描(miao)速度(du)，10秒出圖。

1.標準工作模式：

1.1輕敲(qiao)模式(Vibration mode)

1.2接(jie)觸(chu)模(mo)式 (Contact mode)

1.3相(xiang)位成像(xiang)模式 (Phase imaging)

1.4橫向力模式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線(xian)測試（Force curve）可測楊氏模量

1.6 納米操控(kong) （Nanomanipulation）

1.7 納米(mi)刻(ke)蝕 （Nanolithography）

1.8 力矩陣模式 （Force Mapping）

1.9 摩(mo)擦力測試(shi) （Friction Mode）

2. 可選工作模式：

2.1 磁力顯微鏡(jing)模式(shi)（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡(jing)模(mo)式（EFM mode）

2.3 導電顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液(ye)相模式 （Liquid ;scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專門從事(shi)設計(ji)和制造原子力(li)顯(xian)微鏡的(de)專業化公司 。公司創始(shi)人是(shi)有30年(nian)原子力(li)顯(xian)微鏡經驗的(de) Paul West博士(shi)，原子力(li)顯(xian)微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作(zuo)者。

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ方向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅動分辨率：0.01 nmZ方向驅動分辨率：0.003 nmZ方向測量噪音水平：0.03 nm樣品尺寸：直徑25