簡要描述：提供原子力(li)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)定制服務。葛蘭帕LS-AFM原子力(li)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)AFMWorkshop是一個與倒置光(guang)(guang)學(xue)(xue)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)聯合的(de)用(yong)于(yu)生命科學(xue)(xue)和生物材(cai)料樣(yang)品(pin)研(yan)究顯(xian)(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)。 是一個針式(shi)掃描的(de)原子力(li)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)。它包括電子控(kong)制器(qi)，光(guang)(guang)杠桿光(guang)(guang)學(xue)(xue)探測，光(guang)(guang)學(xue)(xue)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)，用(yong)于(yu)查看(kan)針尖和樣(yang)品(pin)的(de)位置，獲取圖(tu)像結果和后處理的(de)軟件。該系統具有在原子力(li)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)XY軸(zhou)上(shang)相對于(yu)倒置顯(xian)(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)來(lai)定位樣(yang)品(pin)。樣(yang)品(pin)臺適用(yong)于(yu)培(pei)養皿，載玻(bo)片和標準(zhun)AFM樣(yang)品(pin)臺.
產品型號：廠商(shang)性質：生產廠家更(geng)新時間：2024-10-10訪 問 量：4420| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 食品,化工,能源,電子,制藥 |
葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop工作模式
1. 標準工作(zuo)模式：
1.1 輕敲(qiao)模(mo)式(Vibration mode)
1.2 接觸模(mo)式(shi)(Contact mode)
1.3 相位成像模式(shi)(Phase imaging)
1.4 橫向力模(mo)式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5 力曲線(xian)測試（Force curve）可測楊氏模量
1.6 納(na)米操控(kong) （Nanomanipulation）
1.7 納(na)米刻蝕 （Nanolithography）
1.8 力矩陣模式(shi) （Force Mapping）
1.9 摩(mo)擦力測試 （Friction Mode）
2. 可(ke)選(xuan)工作模式(shi)：
2.1 磁力(li)顯微鏡模式（MFM mode）
2.2 靜(jing)電力顯微鏡模式(shi)（EFM mode）
2.3 導(dao)電顯微鏡模式(shi)（C-AFM mode）
2.4 液相(xiang)模(mo)式 （Liquid scan mode）
AFMWorkshop是(shi)專(zhuan)門從事設計(ji)和制造原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡的(de)(de)專(zhuan)業(ye)化(hua)公(gong)司(si) 。公(gong)司(si)創始人是(shi)有30年(nian)原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡經驗的(de)(de) Paul West博士，原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡教(jiao)材《Atomic Forces Microscopes》的(de)(de)作(zuo)者(zhe)。
葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop技術參數
掃描(miao)范圍：100 μm，50 μm，15μm
Z方向(xiang)范圍(wei)：17 μm，7 μm
XY方向驅動分辨率：0.01 nm
Z方(fang)向驅動(dong)分辨率：0.003 nm
Z方向測(ce)量噪音水平(ping)：0.15 nm
樣品尺寸(cun)：直徑25mm
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