簡(jian)要描述:簡(jian)易型原(yuan)子力(li)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)是一(yi)個與倒置(zhi)光(guang)學(xue)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)聯(lian)合的(de)(de)用(yong)于生命(ming)科學(xue)和生物(wu)材料樣(yang)(yang)品研究顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)。 是一(yi)個針(zhen)式(shi)掃描(miao)的(de)(de)原(yuan)子力(li)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)。它(ta)包括電子控(kong)制器,光(guang)杠(gang)桿光(guang)學(xue)探測,光(guang)學(xue)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing),用(yong)于查看針(zhen)尖和樣(yang)(yang)品的(de)(de)位置(zhi),獲取圖(tu)像結果和后(hou)處理的(de)(de)軟件(jian)。該系統具有在(zai)原(yuan)子力(li)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)XY軸上相對于倒置(zhi)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)來定位樣(yang)(yang)品。樣(yang)(yang)品臺適(shi)用(yong)于培養皿,載玻片和標準AFM樣(yang)(yang)品臺.
品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
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價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
應用領域 | 食品,化工,生物產業,能源,制藥 |
簡易型原子力顯微鏡工作模式:
1.標準工作模式:
1.1輕(qing)敲模式(Vibration mode)
1.2接觸模式(Contact mode)
1.3相位成像模式(Phase imaging)
1.4橫向力(li)模式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5力曲(qu)線測試(Force curve)可測楊氏模量
1.6納米操控 (Nanomanipulation)
1.7納(na)米刻蝕(shi) (Nanolithography)
1.8力(li)矩陣模式 (Force Mapping)
1.9摩擦(ca)力測試 (Friction Mode)
2. 可選(xuan)工作模式:
2.1 磁力(li)顯微(wei)鏡模式(MFM mode)
2.2 靜電(dian)力顯微鏡(jing)模式(shi)(EFM mode)
2.3 導(dao)電(dian)顯微鏡模式(C-AFM mode)
2.4 液相模式 (Liquid scan mode)
AFMWorkshop是專門從(cong)事設計和制造原(yuan)子力顯微鏡(jing)的(de)專業化公司(si) 。公司(si)創始人是有30年原(yuan)子力顯微鏡(jing)經驗的(de) Paul West博士,原(yuan)子力顯微鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作(zuo)者。
簡易型原子力顯微鏡技術參數
掃(sao)描(miao)范圍:100 μm,50 μm,15μm
Z方向范圍:17 μm,7 μm
XY方(fang)向驅動(dong)分辨率:0.01 nm
Z方向驅動分辨率:0.003 nm
Z方向(xiang)測量噪音水平:0.15 nm
樣品尺寸(cun):直徑25mm
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