緊湊型原子力顯微鏡工作模式：

1.標準(zhun)工作模(mo)式：

1.1輕敲模式(Vibration mode)

1.2接(jie)觸(chu)模式(Contact mode)

1.3相位成像模式(Phase imaging)

1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線(xian)測(ce)試(shi)（Force curve）可測(ce)楊氏(shi)模量

1.6納米操(cao)控 （Nanomanipulation）

1.7納米(mi)刻蝕 （Nanolithography）

1.8力矩陣模式(shi) （Force Mapping）

1.9摩擦力測試 （Friction Mode）

2. 可選工作模式(shi)：

2.1 磁力顯(xian)微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模式（EFM mode）

2.3 導(dao)電顯微鏡模(mo)式（C-AFM mode）

2.4 液相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專門從事(shi)設計和(he)制造原子(zi)力(li)(li)顯(xian)微(wei)(wei)鏡的(de)專業(ye)化(hua)公司 。公司創始(shi)人是有30年原子(zi)力(li)(li)顯(xian)微(wei)(wei)鏡經(jing)驗的(de) Paul West博(bo)士，原子(zi)力(li)(li)顯(xian)微(wei)(wei)鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者(zhe)。

緊湊型原子力顯微鏡技術參數

掃描范圍(wei)：100 μm，50 μm，15μmZ

方向(xiang)范圍：17 μm，7 μm

XY方(fang)向驅動分(fen)辨率(lv)：0.01 nm

Z方向(xiang)驅動分辨(bian)率：0.003 nm

Z方向測(ce)量噪(zao)音水平：0.15 nm

樣品尺寸：直徑25mm