針式掃描原子力顯微鏡主要優勢：

1、全(quan)新(xin)設(she)計的(de)KMD運動學結構，降低了噪(zao)音水平，輕松實(shi)現原子級分辨率。

2、提供可視(shi)化下針系(xi)統，操(cao)作簡單，對新手(shou)友(you)好(hao)。

3、提高了掃描速度，10秒出圖(tu)。

針式掃描原子力顯微鏡工作模式

1.標準工作(zuo)模式(shi)：

1.1 輕敲模式(Vibration mode)

1.2 接觸模(mo)式 (Contact mode)

1.3 相位成(cheng)像模式(shi) (Phase imaging)

1.4 橫向(xiang)力模式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5 力曲線測(ce)試(shi)（Force curve）可測(ce)楊(yang)氏模量

1.6 納米操控 （Nanomanipulation）

1.7 納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8 力矩陣(zhen)模式 （Force Mapping）

1.9 摩(mo)擦力測試(shi) （Friction Mode）

2. 可選工作模式：

2.1 磁力顯微鏡模(mo)式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模(mo)式（EFM mode）

2.3 導電顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相模(mo)式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專門(men)從事設計和制造原子(zi)力顯微鏡的(de)專業(ye)化公司 。公司創始人是有(you)30年原子(zi)力顯微鏡經驗的(de) Paul West博(bo)士，原子(zi)力顯微鏡教材(cai)《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者。

掃描范(fan)圍：100 μm，50 μm，15μm

方向范(fan)圍：17 μm，7 μmXY

方向驅動分辨率：0.01 nm

方(fang)向驅動分辨率：0.003 nm

方向(xiang)測量噪音水平(ping)：0.03 nm

樣品尺寸(cun)：直(zhi)徑25