HR-AFM是一款專業級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

國(guo)內(nei)生產(chan)的HR-AFM原(yuan)子(zi)力顯微(wei)鏡

標準工(gong)作模式(shi)(shi)：輕敲(qiao)模式(shi)(shi)(Vibration mode)，接觸模式(shi)(shi) (Contact mode)，相位(wei)成像模式(shi)(shi) (Phase imaging)，橫向力模式(shi)(shi) (LFM)，力曲線測試（Force Curve），納(na)米操控 （Nanomanipulation），納(na)米刻蝕(shi) （Nanolithography），力矩陣模式(shi)(shi) （Force Mapping），摩擦力測試 （Friction Mode）

可選工作模式：導電(dian)原子(zi)力顯微(wei)鏡(jing)(jing) （C-AFM），磁力顯微(wei)鏡(jing)(jing)（MFM），靜(jing)電(dian)力顯微(wei)鏡(jing)(jing)（EFM）,掃描電(dian)勢顯微(wei)鏡(jing)(jing)（SKPM）。

高分辨率原子力顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針

X,Y,Z三(san)軸分離的掃描器。

掃描范圍 100×100×17μm

Z軸分辨(bian)率0.035nm

樣品臺(tai)尺寸：25mm*25mm*18mm 

操作軟件(jian)：使用(yong)Laview環境語(yu)言控制，免費提供操作軟件(jian)，并(bing)提供維(wei)護及升級(ji)。

提供(gong)Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數(shu)據分析(xi)系(xi)統

頂視系統光學分辨率≤2微米(mi)

視場(chang)范圍(wei)從(cong)2mm*2mm到300um*300um可(ke)調(diao)(diao)，放(fang)大倍(bei)率從(cong)45倍(bei)到400倍(bei)機械(xie)可(ke)調(diao)(diao)

側視系統，提供可視化下(xia)針，可以通(tong)過電腦精確觀察控(kong)制下(xia)針過程，防(fang)止撞(zhuang)針