便攜式原子力顯微鏡工作模式：

1.標準工作模式：

1.1輕敲模式(Vibration mode)

1.2接觸模式(Contact mode)

1.3相位成(cheng)像(xiang)模式(shi)(Phase imaging)

1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線測(ce)試（Force curve）可測(ce)楊氏模(mo)量

1.6納米(mi)操(cao)控 （Nanomanipulation）

1.7納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8力矩陣模式 （Force Mapping）

1.9摩擦力測(ce)試 （Friction Mode）

2. 可選工作模(mo)式：

2.1 磁力顯(xian)微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模(mo)式（EFM mode）

2.3 導電顯(xian)微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液(ye)相(xiang)模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專(zhuan)門從事(shi)設計(ji)和制(zhi)造原(yuan)子(zi)(zi)力顯微鏡的專(zhuan)業化公(gong)司 。公(gong)司創始人是(shi)有30年原(yuan)子(zi)(zi)力顯微鏡經驗的 Paul West博士(shi)，原(yuan)子(zi)(zi)力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

便攜式原子力顯微技術參數

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范(fan)圍：17 μm，7 μm

XY方向驅動分辨率(lv)：0.01 nm

Z方向驅(qu)動分辨率：0.003 nm

Z方(fang)向測量噪(zao)音水平(ping)：0.15 nm

樣品尺(chi)寸：直徑25mm