納米掃描探針顯微鏡工作模式：

1. 標準工作模式(shi)：

1.1 輕(qing)敲模式(Vibration mode)

1.2 接(jie)觸(chu)模式(Contact mode)

1.3 相位成像模式(Phase imaging)

1.4 橫向力模(mo)式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5 力曲(qu)線測試（Force curve）可(ke)測楊氏模量

1.6 納米操(cao)控(kong) （Nanomanipulation）

1.7 納米刻蝕(shi) （Nanolithography）

1.8 力矩(ju)陣模式 （Force Mapping）

1.9 摩擦力(li)測試(shi) （Friction Mode）

2. 可選工作模式(shi)：

2.1 磁力顯微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模式（EFM mode）

2.3 導(dao)電(dian)顯(xian)微鏡(jing)模式（C-AFM mode）

2.4 液相模(mo)式(shi) （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專(zhuan)門從事設計和制造原(yuan)子(zi)(zi)力(li)(li)顯微鏡的(de)專(zhuan)業(ye)化(hua)公司(si)(si) 。公司(si)(si)創始(shi)人是有(you)30年原(yuan)子(zi)(zi)力(li)(li)顯微鏡經驗的(de) Paul West博士，原(yuan)子(zi)(zi)力(li)(li)顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者(zhe)。

納米掃描探針顯微鏡技術參數

掃描(miao)范圍：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范圍：17 μm，7 μm

XY方向驅(qu)動分(fen)辨率：0.01 nm

Z方向驅(qu)動分(fen)辨率：0.003 nm

Z方向測量噪音水平：0.15 nm

樣品尺寸：直徑25mm