快速掃描探針顯微鏡（ScanningProbeMicroscope，SPM）是一種高分辨率的顯微鏡，能夠實現對樣品表面的原子級成像和表征。采用探針在樣品表面掃描的方式，通過測量探針與樣品之間的相互作用力來獲取表面拓撲和性質信息。
1.原子力(li)(li)顯微(wei)鏡(jing)（AFM）：通過探測(ce)探針與樣品表面(mian)之間(jian)的范德華力(li)(li)、靜(jing)電力(li)(li)、化學鍵(jian)力(li)(li)等相(xiang)互作用力(li)(li)，實(shi)現對(dui)樣品表面(mian)形貌和力(li)(li)學性質的高分辨(bian)成像。
2.掃描隧(sui)道(dao)顯(xian)微鏡（STM）：利(li)用量子(zi)隧(sui)道(dao)效應(ying)，通(tong)過測量探針與樣品(pin)表(biao)面(mian)之間的電(dian)子(zi)隧(sui)道(dao)電(dian)流來(lai)實現對樣品(pin)表(biao)面(mian)原子(zi)級拓撲和電(dian)子(zi)性質的成像(xiang)。
應用領域：
1.納(na)米(mi)(mi)材料研究：用(yong)于表征納(na)米(mi)(mi)材料的結構、形貌、力(li)學(xue)性質等，為(wei)納(na)米(mi)(mi)材料的設計和制備提供重要信息。
2.生(sheng)物醫學：用于(yu)觀(guan)察生(sheng)物分子、細胞和組織的(de)(de)微觀(guan)結構，研(yan)究生(sheng)物分子的(de)(de)相互作用和生(sheng)物表面的(de)(de)性(xing)質。
3.表面(mian)科學(xue)：用于研究表面(mian)吸附、腐蝕、生(sheng)長等(deng)過程，揭示表面(mian)結(jie)構和性(xing)質對材料性(xing)能的影響(xiang)。
4.納米(mi)電子學：用(yong)于研(yan)究納米(mi)器件(jian)的電子輸(shu)運性質，開發新(xin)型納米(mi)電子器件(jian)。
快速(su)掃描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)相比傳統顯微(wei)鏡(jing)具有以下優勢(shi)：
1.高分辨(bian)率：能夠(gou)實(shi)現原(yuan)子級甚(shen)至亞原(yuan)子級的成(cheng)像，揭示樣品表(biao)面的微觀結構。
2.非破壞(huai)性：不需(xu)要對樣(yang)品進行(xing)特殊處理，可以在常溫(wen)、常壓下進行(xing)表征，不會破壞(huai)樣(yang)品。
3.多(duo)功能性(xing)：可(ke)實現表(biao)面(mian)形貌、力學性(xing)質、電子性(xing)質等(deng)多(duo)方(fang)面(mian)的(de)表(biao)征，適(shi)用于不(bu)同類型的(de)樣(yang)品。
4.操(cao)作簡(jian)便：相對于傳統顯(xian)微鏡，操(cao)作相對簡(jian)單，易(yi)于使用。
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