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簡易型原子力顯微鏡的主要組成部分和適用途徑

更新時間:2023-07-23瀏(liu)覽:1490次

  原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,簡稱AFM)是一種高分辨率的(de)顯微鏡,能夠(gou)用(yong)來(lai)(lai)觀察(cha)物(wu)質表面的(de)原子和分子結(jie)構。它利用(yong)了原子之間(jian)的(de)相(xiang)互(hu)作用(yong)力,通(tong)過掃(sao)描探(tan)測器在樣品表面掃(sao)描的(de)方式來(lai)(lai)獲取表面拓撲信(xin)息。
  

 

  簡易型原子力顯微鏡主要由三個基本部(bu)分(fen)組(zu)成:掃描(miao)探針(zhen)、驅動(dong)系統(tong)和信號檢測(ce)系統(tong)。
  
  1.掃(sao)描(miao)探(tan)針,它通常(chang)是一個非(fei)常(chang)細小的尖(jian)(jian),可以(yi)是金屬或者硅等(deng)材料制(zhi)成。這個尖(jian)(jian)的尺(chi)寸通常(chang)在納(na)米尺(chi)度,具有非(fei)常(chang)尖(jian)(jian)銳(rui)的幾何(he)形狀。掃(sao)描(miao)探(tan)針通過(guo)連接到彈性桿上(shang),并(bing)通過(guo)一系列精確的機械和電子機構與(yu)樣品表面(mian)接觸。
  
  2.驅動(dong)(dong)系(xi)統,它負責(ze)使得掃(sao)描探針(zhen)可(ke)以在樣品表(biao)面進行(xing)精確的(de)掃(sao)描運動(dong)(dong)。驅動(dong)(dong)系(xi)統通(tong)常由(you)納米級(ji)的(de)壓(ya)電陶瓷(ci)元件構(gou)成,這些元件可(ke)以根據輸入(ru)的(de)電壓(ya)信號引起相(xiang)應的(de)形變和位移(yi),從而(er)實現(xian)掃(sao)描探針(zhen)的(de)移(yi)動(dong)(dong)。
  
  3.信號(hao)檢測(ce)(ce)系統(tong),它用于(yu)檢測(ce)(ce)掃(sao)描(miao)探(tan)針與樣品表面之間的相(xiang)互作用力(li)和位移(yi)。主要的信號(hao)檢測(ce)(ce)方法是通(tong)過(guo)探(tan)測(ce)(ce)器測(ce)(ce)量掃(sao)描(miao)探(tan)針的振動頻率變化或(huo)者光學干涉來獲取相(xiang)關信息。這些信號(hao)經過(guo)放大和處理(li)后,可以得到樣品表面的拓撲(pu)圖像(xiang)。
  
  在使用AFM時(shi)(shi),首先需要(yao)將樣(yang)品(pin)固(gu)定(ding)在一個穩(wen)定(ding)的(de)平臺上,然后通(tong)過(guo)控(kong)制系統(tong)調(diao)整(zheng)掃(sao)描探針的(de)位置。掃(sao)描過(guo)程中,控(kong)制系統(tong)會根據接收(shou)到的(de)信號實(shi)時(shi)(shi)調(diao)整(zheng)掃(sao)描探針的(de)位置,以保(bao)持相對(dui)于樣(yang)品(pin)表(biao)(biao)面的(de)恒定(ding)距離。最終,通(tong)過(guo)記(ji)錄并處理掃(sao)描過(guo)程中得到的(de)數(shu)據,可以生(sheng)成一幅(fu)高分辨(bian)率的(de)樣(yang)品(pin)表(biao)(biao)面拓撲圖像。
  
  AFM具有非常高的(de)分(fen)(fen)辨率,可(ke)(ke)以(yi)達到原子(zi)級別的(de)分(fen)(fen)辨能力。它還可(ke)(ke)以(yi)在不(bu)同條件下進行(xing)觀察,例(li)如在真空、液體(ti)或者氣體(ti)環境下。這(zhe)使得AFM不(bu)僅可(ke)(ke)以(yi)用來研(yan)究凝聚態物質的(de)原子(zi)結構,還可(ke)(ke)以(yi)用于生物學、材料科學等領(ling)域的(de)研(yan)究。
  
  雖(sui)然(ran)AFM技術相對(dui)復雜,但隨著技術的不(bu)斷(duan)進步,已經出現了一(yi)些簡易型原子(zi)(zi)力顯微(wei)鏡。這些儀器通常采用了更簡化(hua)的機械(xie)和(he)(he)電子(zi)(zi)設計,以降(jiang)低成本(ben)和(he)(he)操作難度。雖(sui)然(ran)其(qi)分辨率和(he)(he)功能(neng)可能(neng)不(bu)如高(gao)級的大(da)型AFM設備(bei),但對(dui)于一(yi)些基礎研究和(he)(he)教學(xue)應(ying)用來說,它們是非常有用的工具。

 

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