afm原子力顯微鏡探針的主要種類有哪些你知道嗎？
更(geng)新時間：2023-02-01瀏覽(lan)：836次(ci)
afm原子力顯微鏡探針是一種具有原(yuan)子分(fen)辨(bian)率的表(biao)面形(xing)貌、電磁性能(neng)(neng)分(fen)析的重要(yao)儀器(qi)。1981年，STM（scanningtunnellingmicroscopy,掃描隧(sui)道顯微(wei)鏡）由IBM-Zurich的BinnigandRohrer發(fa)明。1982年，Binnig觀察(cha)到原(yuan)子分(fen)辨(bian)圖Si(7x7)。1985年，Binnig,Gerber和Quate開發(fa)成功了AFM（atomicforcemicroscope,原(yuan)子力(li)顯微(wei)鏡）。在表(biao)面科學、納米技(ji)術領域、生物電子等領域，SPM（scanningprobemicroscopy）逐漸發(fa)展成為重要(yao)的、多功能(neng)(neng)材的材料表(biao)征工具。
afm原子力顯微鏡探針主要有以下幾種：
1、非接觸(chu)/輕(qing)敲模式(shi)針尖(jian)以(yi)及接觸(chu)模式(shi)探(tan)針：常用的產品，分辨率高，使用壽命(ming)一般(ban)。使用過程中探(tan)針不斷(duan)磨損，分辨率很容易下(xia)降(jiang)。主要應(ying)用與表面形貌觀(guan)察(cha)。
2、導(dao)電探針(zhen)(zhen)：通(tong)過(guo)對普通(tong)探針(zhen)(zhen)鍍(du)10-50納(na)米厚的(de)(de)Pt（以(yi)及別的(de)(de)提高鍍(du)層結(jie)合力(li)的(de)(de)金(jin)屬(shu)，如Cr，Ti，Pt和Ir等）得到。導(dao)電探針(zhen)(zhen)應用(yong)于EFM，KFM，SCM等。導(dao)電探針(zhen)(zhen)分辨率比tapping和contact模式的(de)(de)探針(zhen)(zhen)差，使用(yong)時(shi)導(dao)電鍍(du)層容易脫(tuo)落(luo)，導(dao)電性難(nan)以(yi)長(chang)期保(bao)持。導(dao)電針(zhen)(zhen)尖的(de)(de)新(xin)產品(pin)有碳納(na)米管針(zhen)(zhen)尖，金(jin)剛(gang)石(shi)鍍(du)層針(zhen)(zhen)尖，全(quan)金(jin)剛(gang)石(shi)針(zhen)(zhen)尖，全(quan)金(jin)屬(shu)絲(si)針(zhen)(zhen)尖，這些新(xin)技術克服(fu)了普通(tong)導(dao)電針(zhen)(zhen)尖的(de)(de)短壽(shou)命和分辨率不高的(de)(de)缺點。
3、磁(ci)性探針(zhen)：應用于MFM，通過在普通tapping和contact模式(shi)的探針(zhen)上鍍Co、Fe等鐵磁(ci)性層(ceng)制備，分辨率(lv)比普通探針(zhen)差，使用時導電鍍層(ceng)容易(yi)脫(tuo)落。
4、大長(chang)徑(jing)比(bi)探(tan)針(zhen)(zhen)：大長(chang)徑(jing)比(bi)針(zhen)(zhen)尖是(shi)專為測量深(shen)的(de)(de)溝槽以及近似鉛垂(chui)的(de)(de)側(ce)面而設計生產的(de)(de)。特點：不(bu)太(tai)常用(yong)的(de)(de)產品，分辨率很(hen)高(gao)，使用(yong)壽命一般(ban)。技術參數：針(zhen)(zhen)尖高(gao)度>9μm；長(chang)徑(jing)比(bi)5:1；針(zhen)(zhen)尖半徑(jing)<10nm。
5、類金(jin)剛(gang)(gang)石碳(tan)AFM探針/全金(jin)剛(gang)(gang)石探針：一(yi)種(zhong)是(shi)在硅探針的針尖部分上(shang)加一(yi)層類金(jin)剛(gang)(gang)石碳(tan)膜(mo)，另外一(yi)種(zhong)是(shi)全金(jin)剛(gang)(gang)石材料制備（價格很高(gao)）。這兩種(zhong)金(jin)剛(gang)(gang)石碳(tan)探針具有很大的耐久性，減少了針尖的磨損從而增(zeng)加了使(shi)用(yong)壽命。
afm原子力顯微鏡探針利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而開發了各種不同應用領域的顯微鏡，如AFM（范德法力），靜電力顯微鏡EFM（靜電力）磁力顯微鏡MFM（靜磁力）側向力顯微鏡LFM（探針側向偏轉力）等，因此有對應不同種類顯微鏡的相應探針。
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